Nara National Research Institute for Cultural Properties Repository: 018 全試料型Ｘ線回折装置の開発と応用

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タイトル:	018 全試料型Ｘ線回折装置の開発と応用
その他のタイトル:	Development and Application of Whole Sample X-ray Diffraction System
著者:	町田, 章まちだ, あきら Machida, Akira 肥塚, 隆保こえづか, たかやす Koezuka, Takayasu 沢田, 正昭さわだ, まさあき Sawada, Masaaki
キーワード:	非破壊的手法Ｘ線透視法全試料型Ｘ線回折装置蛍光Ｘ線分析法
発行日:	1987年2月25日
出版者:	奈良国立文化財研究所
引用:	奈良文化財研究所年報、1986、p.49
URI:	http://hdl.handle.net/11177/3160
出現コレクション:	1986

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